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一、四波剪切干涉技术原理：
   剪切干涉技术基本原理是将待检测的激光波前分成两束，其中的一束相对于另一束横向产生一些错位，两束错位的光波各自保持完整的待测波前信息，相互叠合后，产生干涉现象，CCD/CMOS相机会接收干涉图样，进行相应的计算分析，从而利用傅立叶变换的相关计算，分析出待测波前的相位分布，以及强度分布等。基于干涉条纹的疏密度敏感于波前的斜率，因此波前传感器在探测波前的偏离范围较传统的哈特曼传感器具有更大的优越性。
二、波前传感器的典型应用
　光在传输的过程中会经过不同的介质，不同的介质由于其构成物质的分布不均匀，从而导致光的波前产生各种各样的变化，自适应系统便应运而生。作为自适应系统中重要的一环，波前传感器的检测精度，动态范围等等因素，都制约着自适应系统最终的调制结果。由于剪切干涉波前分析仪具有分辨率高，探测精度高，探测速度快，操作简便，可直接的三维显示波前畸变的模式等优点，目前已经得到了广泛的使用。
1、自适应光学系统实时波前探测
　　在自适应光学系统中利用Phasics波前传感器检测到准确的波前畸变信息，反馈给波前校正系统以补偿待测波前的畸变，从而可有效的降低湍流应的影响，补偿大气湍流引起的光波相位扰动。
2、激光光束性能、波前像差、M^2、强度等的检测
　激光光束质量是激光器的一个重要的技术指标参数，主要是指光束在传播中横截面的场强分布及变化，主要的参量包括：光束直径，传播模式，远场发散角，光斑方向漂移等。研究波前相位的畸变是分析激光装置中腔镜变形的主要依据，提高波前性能是提高光束质量的重要手段。
　波前分析仪可以用于激光波前的检测，同时可以得到激光的光强分布和其他的激光光束质量参数，为同时检测激光波前和光束质量提供了一种高精度，高灵敏度，实时3D显示，简便可行的新方法。
3、精密光学元器件检测
　随着科技的进步，人们对精密光学元器件的生产技术指标要求越来越高，波前探测器能给精密的对光学元器件进行检测，实时得到准确的监测数据，对于精密光学元器件的生产无疑产生了一场新的技术革命。相对于传统的干涉仪检测光学元器件的波前，Phasics波前分析仪更适合像差、球差较大的非球面透镜的检测。波前分析仪具有无需标准件，体积小，精度高，数值孔径大(可达0.75)，等优点。
4、激光等离子体检测分析
   基于波前分析的四波剪切干涉技术，可实时检测激光产生的等离子体的电子密度、模式及传播方式。可实时的监测等离子体的产生、扩散过程，以及等离子体的品质因数。可以更好地为客户在喷嘴设计、激光脉冲的照度、气压、均匀性等方面提供优化的数据支持。
除此之外，波前分析仪还被广泛的应用于红外、近红外探测;平行光管/望远镜系统的检测与装调;卫星遥感成像、生物成像、热成像领域;球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜);虹膜定位像差引导;大口径高精度光学元器件检测;激光通信领域;航空航天等领域。